Lasta Gxisdatigo 18/ 11/ 2003
La aplikfiguro permesas interagon cele vidigi la metodon por obteni kristalajn mezurojn per X-radia difrakto por kristalo reprezentita en unu dimensio. Oni obtenas la registron fotografe per Buerguer-procesia cxambro aux per elektrona detektilo en auxtomata difraktometro. La modelo cxi tie reprezentita utiligas Ewaldsferon kaj eksplikas la obtenadon de la reciproka parametro a* de la modelo-cxelo. La tabelo 1 resumas la signifon de la legendoj utiligitaj en la aplikfiguro.
Tabelo 1 - Signifo de la legendoj utiligitaj en la figuro.
| Legendo | Signifo |
| I | Elsenda fonto de la incida X-radio |
| C | Kristalo en la centro de la Ewaldsfero |
| a* | Kristala akso referenca de la reciproka spaco |
| (1 0 0) | Kristala plano kun Miller indicoj h =1, k = 0 kaj l = 0 |
| O | Origino de la kristalaj aksoj de la sistemo |
| B | Origina punkto en la filmo, X-radia makulo kiu venas rekte de la fonto I |
| X” | Makulo produktita sur la filmo per la difrakta X-radio de la kristalo en C |
| F | Fotografa filmo |
| grau | Rotacio, en gradoj, post la treno de la rulbaro |
| l2 | Ondolongo de la X-radio, tiel ke CO = 1/l2 |
La mustreno sur la verda kvadrato de la rulbaro en la figuro turnigas la kristalon angule indikita en gradoj. Rimarku ke la kristala akso kiu entenas la punktojn (h 0 0) de la reciproka spaco ankaux turnigxas, same kiel la filmo (aux elektrona detektilo) tiamaniere ke la paraleleco dauxras inter la filmo kaj la kristala akso. Por vidigi skemon de la reciproka reteto necesas premi la butonon L. Dua premo sur butono L forvisxas la skemon.
La X-radio, cxi tie indikita per verda streko komence de la fonto I, incidas sur la kristalo en C. Kiam la punkto korespondanto al la plano (1 0 0) tangxas la Ewaldsferon, parto de la incida X-radio sur la kristalo estas difraktita en la direkto C kaj (1 0 0) kaj koloras la fotografan filmon (aux elektronan detektilon) en la punkto X”. La tabelo 2 prezentas kolekton de gravaj grandoj kaj ties signifo.
Tabelo 2 - Signifo de gravaj grandoj.
| Grando | Signifo |
| C O | Ewaldsfera radio = 1/l2 |
| O (1 0 0) | Reciproka parametro a* |
| C B | Distanco kristalo - filmo |
| X”B | Distanco mezurita en la filmo |
La triangulo C (100) kaj O similas triangulon C Bkaj X”. Do oni konkludas ke la valoro de la reciproka parametro de la modelo-cxelo povas esti kalkulita per a* = (X”B/ l2)/(C B).
Ekzerco
1) Kiam oni premas butonon l2, la X-radia ondolongo malgrandigxas gxis la l1 valoro. Kia efiko okazas la malgrandigo de la X-radia ondolongo sur la faktoro de pligrandigo de difrakta metodo por mezuri distancojn?
2) Kiu estus la ondolongo pli konvena por mezuri la parametron de la modelo-cxelo de makromolekulo, l1 aux l2?
3)Kiu ondolongo kapablas registri pligranda nombro de difraktaj radioj en la filmo F, l1 aux l2?
Bonvolu sendi viajn komentariojn.
Tabelo de temoj.